2026年6月2日下午，一场直击光伏组件可靠性核心痛点的高密度技术研讨会在上海虹桥绿地铂骊酒店闭门举行。由Kiwa集团旗下PVEL、PI China、PI Berlin与Extel联合主办的本次会议，吸引了众多头部组件制造商的质量与技术负责人到场。

与大多数行业会议不同，本次研讨会没有开幕致辞，没有冗长仪式，而是从实验室数据、工厂生产过程到实际电站现场，完成了对组件可靠性议题的一次“全链路拆解”。

Kiwa PVEL中国商务拓展主管胡佳在解读《2026年光伏组件可靠性记分卡》时指出，实验室测试仍然是识别设计缺陷的关键手段，但高分并不等同于零风险。

他展示了本届记分卡中的最新测试数据，涵盖热循环、湿热、PID、机械载荷、LID+LETID等多项可靠性测试序列。胡佳强调，记分卡的价值不在于简单的“排名”，而在于帮助制造商和采购方看清不同组件在特定应力下的真实表现，从而做出更有依据的技术选型与产品迭代决策。

“高分值得肯定，但不能迷信。”他提醒，实验室的测试条件与实际电站环境存在天然差异，一款组件在测试舱内表现优异，并不意味着在现场运行中就能一帆风顺。这一务实观点在现场引发了广泛共鸣，多位与会者在问答环节表示，如何平衡实验室数据与现场表现，正是他们当前最困惑也最关心的问题。

随后，Kiwa PI Berlin全球工厂服务副总裁陆飞以“工厂监造审核见解”为题，直言当前行业的一个普遍误区：过度依赖送样测试，而忽视量产一致性。“我们在工厂现场看到的最大问题，不是技术能力不够，而是质量控制体系执行不到位。”他展示的一组来自一线监造的数据显示，相当比例的组件失效根源可追溯至生产环节的波动，而非设计本身。

面对UVID、脱层及组件破裂等近年来频发的失效类型，Kiwa PI China技术负责人蒋建平介绍了其新实验室的针对性测试能力。他表示，传统的加速老化测试正在被更精细、更场景化的测试方案所补充，以更真实地模拟组件在极端环境下的长期表现。

Kiwa Extel总经理Fred Chen则带来了一线电站现场服务的“实锤”发现。他指出，现场背面玻璃破碎的原因不止一种：常见的是割草机导致，组件短边向下弯曲，导致接线盒安装孔处应力集中，裂纹沿长边方向扩展。此外，玻璃边缘或开孔处的固有缺陷、边框设计偏弱、安装方式过于激进、层压边缘挤压等也会诱发破碎。

本次会议备受关注的环节，莫过于由Kiwa PVEL中国运营总监Jean-Nicolas Jaubert主持的专题讨论。他将实验室、工厂、实验室新能力、现场四个视角串联起来，引导与会者形成一种共识：可靠性问题无法通过单一环节解决，必须建立“设计-制造-验证-运维”的闭环反馈机制。

“今天的会议有一个很有意思的现象，”Jean-Nicolas Jaubert在会后表示，“来自不同环节的专家在现场对同一个失效案例给出了不同的解释，但正是这种碰撞，才让问题的全貌浮出水面。这恰恰是Kiwa作为一家覆盖全链条的TIC机构的独特价值。”

本次研讨会还设置了问答环节与交流晚宴，为与会者提供了深度交流的平台。

Kiwa表示，未来将持续举办此类高浓度技术会议，推动光伏行业从“被动检测”走向“主动可靠性管理”。